Изучение структуры поверхности методом дифракции медленных электронов (ДМЭ)

Учеб. пособие. СПб.: Изд-во СПбГТУ, 1997.- 46 с.Пособие раскрывает содержание раздела дисциплины СД.03. “Физика и диагностика поверхности” государственного образовательного стандарта специальности 071400 “Физическая электроника”, а также родственных специальных дисциплин направлений бакалаврской подготовки 550700 “Электроника и микроэлектроника” и 553100 “Техническая физика”. Изложены основные представления о дифракции медленных электронов и возможностях метода ДМЭ, описаны конструкция электронографа и методики расшифровки дифракционных картин, обсуждается влияние дефектов на картины ДМЭ. Приводятся указания по выполнению лабораторной работы на низковольтном электронографе.
Предназначено студентам третьего и четвертого курсов радиофизического факультета, изучающих дисциплины “Физика поверхности и границ раздела” и “Диагностика поверхности материалов” и выполняющих лабораторный практикум по современным методам иссле-
дования.